橋爪正樹教授・四柳浩之准教授@電気電子システムコースが、第26回IEEE Asian Test SymposiumでBest Paper Awardを受賞しました。

2018年11月28日

 2017年11月27日~30日に台湾・台北で開催された、第26回IEEE Asian Test Symposiumにおいて、橋爪正樹教授と四柳浩之准教授@電気電子システムコースがBest Paper Awardを受賞しました。
今回の受賞は、台湾科技大学Lu教授と、橋爪教授、四柳准教授が行ってる共同研究に関して発表した論文が、優秀であると賞されたものです。

 

301016橋爪・四柳

<受賞論文題目>
「Fault-Aware Page Address Remapping Techniques for Enhancing Yield and Reliability of Flash Memories」

 

<受賞日>2018年10月16日