岡田靖彦さん@電気電子創成工学コース(電気電子工学科)が,一般社団法人情報処理学会主催の「第153回システムLSI設計技術研究会」において, 優秀発表学生賞を受賞しました。 テストデータ量削減のための反転信号シフト型BAST構成とテストパターン生成法 受賞日:2012年8月29日
