橋爪正樹教授・四柳浩之准教授@理工学域電気電子系が、第26回IEEE Asian Test SymposiumでBest Paper Awardを受賞しました。

2018年11月28日

 2017年11月27日~30日に台湾・台北にて開催された、第26回IEEE Asian Test Symposiumで、橋爪正樹教授と四柳浩之准教授@理工学域電気電子系がBest Paper Awardを受賞しました。今回の受賞は、台湾科技大学のLu教授と橋爪教授・四柳准教授が行っている共同研究に関して発表した論文が優秀であると賞されたものです。

301016橋爪・四柳

<受賞論文題目>

「Fault-Aware Page Address Remapping Techniques for Enhancing Yield and Reliability of Flash Memories」

<受賞日>2018年10月16日